研究設備
透過型電子顕微鏡
(JSM-250SE、日本電子)
集束イオンビーム
(JFIB-2310、日本電子)
３次元形状測定顕微鏡
(JSM-6610LV、日本電子)
走査型プローブ顕微鏡（SPM）・近接場光顕微鏡
(JSPM-5200T、日本電子)
バイオデバイス・細胞機能評価システム
(SUPRA40VP-NU（超高分解能FE-SEM）、 Carl Zeiss)
環境制御走査型電子顕微鏡
(ESEM-2700、ニコン)
走査型共焦点レーザー顕微鏡
(LEXT OLS3100、オリンパス)
レーザー顕微鏡
( VK8710、キーエンス)
全自動水平型多目的Ｘ線回折装置
(Smart Lab 9-PK、リガク)
飛行時間型二次イオン質量分析装置
(TOF-SIMS5、ION-TOF)
走査型オージェ電子分光分析装置AES/SAM
(PHI 700 Xi, ULVAC-PHI)
電子スピン共鳴装置
(JFS-FA200、日本電子)
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
(JY5000RF、堀場製作所)
三次元CNC測定装置
(Crysta-Apex C7106, ミツトヨ)
微小表面材料特性評価システム
(MZT-500、 ミツトヨ)
熱膨張率測定装置
(DIL402C, NETZSCH)
超高感度示差走査熱量計
(DSC3200SA、ブルカー・エイエックス)
水晶発振子マイクロバランス計測装置
(QCM-Z500、KSVインスツメント)
シングルナノ粒子径測定装置
( IG-1000、島津製作所)
ペプチド合成装置
(PSSM-8、島津製作所)